Rastersondenmikroskope

Bei der FRT GmbH werden auch Rastersondenmikroskope eingesetzt. Die Rastersondenmikroskope, die von der Fries Research & Technology GmbH integriert werden sind Rasterkraftmikroskope (AFM - hier: Atomic Force Microscope) oder Ultraschallkraftmikroskope (AFAM - hier: Atomic Force Acoustic Microscope).

Das AFM gehört zur Gruppe der Rastersondenmikroskope und ist eine Messsonde mit der Proben durch den eingebauten Piezo-Scanner mit höchster Auflösung bis in den Sub-nm-Bereich untersucht werden können. Neben der Oberflächentopographie können durch verschiedene Messmodi auch Materialeigenschaften untersucht und analysiert werden. In der Basisausführung misst das AFM im Kontakt-Modus. In Verbindung mit den FRT Geräten MicroProf und MicroGlider und den optischen Sensoren steht somit bei der Probencharakterisierung ein kontinuierlicher Messbereich von wenigen µm bis 600 mm zur Verfügung.

Rastersondenmikroskope - hier: AFM
Messprinzip: Ratserkraftmikroskopie
Detektionsprinzip: Faseroptisches Interferometer
Messbereiche x,y: von 20 µm x 20 µm bis zu 80 µm x 80 µm
Messbereich z: min. 2 µm bis min. 6 µm
Auflösung x,y: typ. 5 nm
Auflösung z: typ. 2 nm
Rastergeschwindigkeit: 1 - hier: 5 Zeilen/s
Modi

• Non-contact and phase contrast
• Magnetic / elctrostatic force mode
• Differential field and elasticity mode
• Friction and lateral force module
• Mode for surface potential (Kelvin probe)
• AFAM Atomic force acoustic microscopy
• liquid immersion mode

Das Ultraschallkraftmikroskop (AFAM) gehört ebenfalls zur Gruppe der Rastersondenmikroskope. Es dient zur Bestimmung von elastischen Eigenschaften der Probe. Durch die hohe Ortsauflösung können kleinste Störungen im Material oder auch dünne Schichten auf der Oberfläche der Probe untersucht werden, die mit makroskopischen Elastitätsmessungen nicht mehr zugänglich sind. Während der Messung wird eine Ultraschallwelle in die Probe eingekoppelt. Durch die Aufnahme der Kontaktresonanzen des Systems zwischen Probe und Messspitze kann die Elastizität bestimmt werden.

Der Vorteil bei dem Einsatz der Rastersondenmikroskope bei der FRT GmbH liegt in der Kombination dieser Rastersondenmikroskope mit den anderen optischen Sensoren der FRT GmbH und der Integration in die Standardmessgeräteserien der FRT GmbH. Sowohl am FRT MicroProfâ als auch am FRT MicroGliderâ kann das AFM als zusätzlicher Sensor angebaut werden. Selbstverständlich kann das AFM auch als einziger Sensorkopf benutzt werden oder Sie entscheiden sich für eine Stand-Alone-Lösung ohne dazugehöriges Basismessgerät. Die Rastersondenmikroskope werden zunehmend immer mehr an Bedeutung gewinnen. Dieser Entwicklung ist die FRT GmbH schon früh nachgekommen.
 

Für weitere Informationen über
Rastersondenmikroskope von FRT